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能量色散型X熒光光譜儀有什么優(yōu)點(diǎn)？
發(fā)布時(shí)間：2022-10-21 08:55:32 點(diǎn)擊：1977
不使用分光晶體，單使用X射線(xiàn)管為光源、樣品室和檢測系統，組成了能量色散型X熒光光譜儀，與其他類(lèi)型X熒光光譜儀，有什么優(yōu)點(diǎn)：
①儀器結構簡(jiǎn)單，省略了晶體的精密運動(dòng)裝置，也無(wú)需精確調整。同時(shí)，避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X射線(xiàn)管功率低，一般在100W以下，不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統，空氣冷卻即可，節省電力。
②能量色散形熒光光儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近，X射線(xiàn)的利用率很高，不需光學(xué)聚集，在累積整個(gè)光譜時(shí)，對樣品位置變化不像波長(cháng)色散型熒光光儀那樣敏感，對樣品形狀也無(wú)特殊要求。
③在能量色散譜儀中，樣品發(fā)出的全部特征X射線(xiàn)光子同時(shí)進(jìn)入檢測器，這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時(shí)累積和顯示全部能譜（包括背景）的基礎，也能清楚地表明背景和干擾線(xiàn)。因此，半導體檢測器X射線(xiàn)光譜儀能比晶體X射線(xiàn)光譜儀快而方便地完成定性分析工作。
能量色散型X熒光光譜儀
④能量色散法的一個(gè)附帶優(yōu)點(diǎn)是測量整個(gè)分析線(xiàn)脈沖高度分布的積分程度，而不是峰頂強度。因此，減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線(xiàn)波長(cháng)的漂移影響。由于同時(shí)累積還減小了儀器的漂移影響，提高凈計數的統計精度，可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時(shí)累積觀(guān)察和測量所有元素，而不是按特定譜線(xiàn)分析特定元素。因此，減小了偶然錯誤判斷某元素的可能性。
當然，波長(cháng)色散X熒光光譜儀亦有能量色散型X熒光光譜儀所沒(méi)有的優(yōu)勢，選擇一款合適的儀器，恰是客戶(hù)與廠(chǎng)家共同努力探尋的結果。上一篇：火花直讀光譜儀中金屬灰清潔 下一篇：發(fā)射光譜分析儀是解決材料元素分析的重要方法
